ICP电感耦合等离子体发射光谱仪

超声消解 ICP-AES 测定铝合金中硅元素含量

发布日期:2024-05-10  点击次数:

摘要: 建立了超声密闭消解-电感耦合等离子体发射光谱法测定铝合金中硅元素含量的分析方法。通过优化样品前处理条件,对超声强度、密闭条件、超声温度、超声时间及酸的浓度进行筛选,选择合适的分析谱线,测定了铝合金中等含量硅。对不同硅含量的铝合金 ZLD105ZBY5291ZBY5091 进行了精密度及准确度实验,其相对标准偏差( SSD ) 0. 3% 0. 7% ,加标回收率在 98. 9% 101. 0% 。该方法分析成本低、快速、准确、方便,完全可应用于实际样品测试。

硅铝合金具有良好的铸造性能和机械性能,硅含量增加,能够提高合金的抗拉强度及硬度。但在铝-硅合金生产过程中,易出现硅的偏析进而影响铝合金的使用性能,因此铝合金中硅含量的准确测定尤为重要。

铝合金中硅含量测定主要有分光光度法、重量法和电感耦合等离子体发射光谱法。国标 GB /T20975. 5—2008 对低含量硅( 0. 001 0% 0. 40% ) 的测定采用钼蓝分光光度法,对高含量硅的测定( 0. 30% 25. 00% ) 采用重量法,该方法操作繁琐、过程复杂,需要铂坩埚高温灼烧,成本较高。国标 GB /T 20975. 25—2020 对于硅含量测定( 0. 010% 13. 50% ) 使用氢氧化钠溶解、再酸化,其过程复杂、引入钠基体较高,测试时还需要考虑基体匹配问题。铝合金中的硅一般不溶于盐酸、硝酸等酸,需要加入氢氟酸才能将硅完全消解,但反应生成的四氟化硅( SiF4 ) 容易挥发损失。现有文献大部分采用碱溶方法测样,翟声明等采用碱溶样、用ZL105A 标准物质同时溶样配制标准工作曲线,测定了ZL101 铸铝合金中硅含量。酸消解的方法主要是通过加入氢氟酸消解硅元素,韩超等利用混酸溶解样品,通过基体匹配配制标准溶液,测定铝合金中的高含量硅。但碱溶法操作繁琐、基体效应明显,酸溶法SiF4 易损失导致结果偏低。超声波是频率高于20 kHz 的声波,其在液体、固体里传播时衰减较小。

超声在介质中传播时,主要有 3 种效应: 1) 线性交变振动作用; 2) 非线性效应,会产生超声破碎、促进化学反应的现象; 3) 空化作用,有利于溶液的粉碎、乳化、分散。超声处理具有处理温度低、处理效果均匀、效率高且设备价格相对便宜等优点。之前报道中,利用超声作为前处理的样品类型,主要包括大气颗粒物样品、土壤样品、烟草样品、环境水样和茶叶样品等。

本文以铝合金ZLD105ZBY5291ZBY5091为例,利用混酸超声密闭方法对样品进行消解,测定了硅的含量,避免了消解过程中硅元素损失。该方法准确、快速且成本较低,可应用于实际样品测试。

仪器与试剂

电感耦合等离子体发射光谱仪(上海美析仪器有限公司);超纯水机;超声波清洗机。

硝酸 ( CMOS ) ; 盐 酸 ( CMOS ) ; 氢 氟 酸( CMOS ) ; 铸造铝合金( ZLD105) ,本溪合金总厂;ZBY5291 铝合金( ZLD104) ,济南众标科技有限公司; 1 000 mg /L 硅标准溶液,国家有色金属及电子材料分析测试中心。

仪器参数

仪器谱线范围: 163 782 nm; 耐氢氟酸( HF) 系统; 功率: 1 400 W; 进样量: 1. 5 mL /min; 等离子气流量: 12 L /min; 辅助气流量: 0. 5 L /min; 雾化气流量:0. 7 L /min; 径向观测方式。

试样溶液的制备

准确称取 0. 05 g 左右样品置于 50 mL 离心管中,精确至 0. 000 1 g,加入 40 mL 水润湿,加 2. 5 mL盐酸,2. 5 mL 硝酸,2 mL 氢氟酸,70 ℃ 超声至溶液澄清透明,待溶液冷至室温后,转移至 100 mL 塑料容量瓶中,用超纯水定容后摇匀待用,若浓度过高,用超纯水稀释后测样。

标准溶液的制备

按照表 1 所示分别移取硅元素标准溶液0. 250. 5123 4mL650mL容量瓶中,分别加入2% HNO3 溶液定容,配制成标准溶液,浓度如表1 所示。


结 论

采用超声密闭消解-电感耦合等离子体发射光谱法测定铝合金中硅元素含量。通过优化样品前处理条件,对超声强度、密闭条件、超声温度、超声时间及酸的浓度进行筛选,选择合适的分析谱线,测定了中等硅元素含量。对不同硅含量的铝合金 ZLD105,铝合金 ZBY5291,铝合金 ZBY5091 进行了精密度及准确度实验,其 SSD0. 3% 0. 7% ,加标回收率在98. 9% 101. 0% 。该方法分析成本低、快速、准确、方便,可应用于实际样品测试中。


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(美析仪器不仅仅只是一家高新技术认证企业,更通过了 CE 认证、FCC 认证、RoHS 认证以及国内多项资质审查认证,并有着多项自行研发的光谱类专利版权等等)


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