ICP电感耦合等离子体发射光谱仪

电感耦合等离子体发射光谱法测定纳米镍粉中的微量杂质

发布日期:2024-12-17  点击次数:

纳米镍粉作为一种重要的材料,以其特有的物理化学性质,在多层陶瓷电容器电极材料、电池电极材料、催化剂制造、磁性材料、导电涂层、医药行业和复合材料等领域广泛应用。纳米镍粉的性能受其品质和纯度直接影响,尤其是金属微量杂质的存在(即便是在微量级别),可能对纳米镍粉物理化学性质产生显著影响。金属杂质可能引入晶格缺陷或额外的散射中心,从而影响纳米镍粉的电子迁移率,并且在纳米尺度上尤其明显,在使用纳米镍粉作为导电材料或电池电极材料时,这种影响尤其不利;金属杂质可能与镍发生反应,形成不稳定的化合物和合金,影响其在催化剂载体或其他化学应用中的表现;暴露于高温时,金属杂质的存在可能导致纳米镍粉的热分解温度降低或熔点变化,这种影响在焊料和高温合金的应用中尤为关键。

GB/T 8647中所采用的磺基水杨酸分光光度法条件控制要求高,且对灵敏度有限制;电热原子吸收光谱法分析速率慢,只能单元素分析;钼蓝分光光度法反应条件敏感、操作步骤复杂,并且钼蓝的颜色判断可能受到操作人员视觉判断的影响;火焰原子吸收光谱法灵敏度较低,检出限较高且只能单元素分析;电弧发射光谱仪灵敏度较低、分析速率较慢、谱线干扰多、样品无法回收、稳定性和重复性较低的缺点,无法满足当前工业需求。GB/T 8647中所采用的电感耦合等离子体质谱仪虽然灵敏度极高、数据采集速率快,但成本高昂且易受基体效应的影响,而电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)对于中等灵敏度和更广泛元素范围的分析更高效。鉴于上述分析方法各自存在局限性,本研究采用ICP-OES对纳米镍粉中微量杂质进行测定研究。ICP-OES可同时多元素分析等优势,克服了传统方法在灵敏度、分析速率和复杂性上的不足,更符合当前工业生产对杂质检测的要求。

1 实验部分

1.1 试剂及仪器

纯度99.99%镍;镍粉;(1+1)硝酸(优级纯)和(1+1)盐酸(优级纯)按13配比成王水;实验室自制专用纯水。

钠标准溶液、镁标准溶液、钙标准溶液、铁标准溶液、铅标准溶液、铜标准溶液、锌标准溶液、锰标准溶液、铬标准溶液、钴标准溶液、镉标准溶液、铝标准溶液、钾标准溶液、钒标准溶液和标准物质18种金属混标

电感耦合等离子体发射光谱仪(上海美析仪器有限公司);万用电子炉;电子天平。

1.2 样品的制备

将纯度99.99%镍和镍粉各0.5g(精确至0.0001)分别加入2150mL烧杯中,用少许纯水湿润;然后分别加入4mL王水后置于万用电炉上加热消解,待溶液完全清亮后分别移至50mL容量瓶中定容,摇匀,待测定。

1.3 标准曲线的配制

450mL容量瓶,每个容量瓶中加入10mL消解后的镍样品溶液(镍样品纯度为99.99%),然后分别加入0123mL浓度为10mg/L的混合标准溶液,用水稀释定容后,此时各容量瓶中的杂质含量分别为00.20.40.6mg/L。

1.4 ICP-OES实验仪器参数

在考虑实验仪器参数选择时,需考虑溶解度、黏度和溶液的电导率等。从样品基质、黏度和溶解性、样品中元素的浓度和样品的酸度等综合考虑,确定的实验仪器工作参数见表1


1.5 各元素分析谱线的选择

ICP-OES分析中,最主要的干扰是谱线干扰,选取分析线时,应首先考虑谱线的灵敏度,注意可能受到基质效应影响的分辨程度高的谱线。由于自制镍粉和99.99%纯镍的镍含量较高,而大多数金属杂质含量较低,含量相差较大,因此,对于分析线的选择需选择杂质元素附近没有镍谱线的分析线。综合考虑杂质元素灵敏度、干扰、谱线自由度、背景信号、波长范围以及元素光谱特性等因素,选择的波形结果见表2

文章来源:[1]詹杰,陈小娟,周忠丽,.电感耦合等离子体发射光谱法测定纳米镍粉中的微量杂质[J].精细与专用化学品,2024,32(12):27-31.DOI:10.19482/j.cn11-3237.2024.12.07.

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